3D-Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X von Keyence
Foto: Keyence

Messtechnik

Keyence: Schnelle, automatisierte Obeflächenanalyse

Keyence hat sein konfokales 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X auf den deutschen Markt eingeführt. Was es kann, lesen Sie hier.

Die Modellreihe VK-X wurde von Keyence entwickelt, um Unzugänglichkeiten in Bildgebung und Messungen zu revolutionieren. Das VK-X bietet eine Vielzahl an neuen und verbesserten Funktionalitäten wie die bewährte konfokale Lochblendenoptik und die Fokusvariation nach ISO 25178-6. Mit der kleinen Lochblende und durch die Verwendung eines Photomultipliers als Laser-Empfangselement mit hochempfindlicher 16-Bit-Erfassung kann das VK-X Bilderfassungen und Messungen auf nahezu jeder Art von Material durchführen, da das Streulicht reduziert wird. Selbst Schichtdickenmessungen auf transparenten Folien und Beschichtungen wie auch kleinste Strukturen können nun einfach dargestellt werden.

Vollfokussierte Farbbilder

Messungen können über eine 50 mm-Messfläche mit einer Auflösung im Nanometerbereich und einer Vergrößerung von 42x bis 28.800x durchgeführt werden. Dadurch können stets vollfokussierte Farbbilder aufgenommen werden.

Neben der konfokalen Laser-Lochblendenoptik sind jetzt auch Messungen mit Fokusvariation nach ISO 25178-6 möglich. Die Fokusvariation umfasst mehrere Aufnahmen, während sich das Objektiv in der Z-Achse auf und ab bewegt. Diese Bilder werden anschließend verwendet, um eine 3D-Oberfläche entsprechend der Fokusposition zu erstellen.

Analyse und Zusammenfassung mit einem Klick

Im Allgemeinen setzt Keyence nicht nur einen großen Wert auf die technische Entwicklung, sondern berücksichtigt gleichzeitig die Benutzerfreundlichkeit im Sinne einer einfachen Bedienung der Modellreihe VK-X. Die neue AI-Scan-Funktion wie auch die AI-Analyser-Funktion vereinfachen die Arbeit des Benutzers, da dieser mit nur einem Klick Analysen starten, wie auch zusammenfassen kann. Darüber hinaus müssen keine individuellen Messeinstellungen mehr vorgenommen werden. Das VK-X ist in der Lage, die gleichen Messungen und Auswertungen für mehrere Datenquellen automatisiert unter identischen Bedingungen durchzuführen.

Eine weitere Besonderheit stellen die Messmöglichkeiten dar, wie beispielsweise die Profil- und Rauheitsmessungen. Profilmessungen sind nun an jeder beliebigen Stelle zerstörungsfrei und kontaktlos möglich. Rauheitsmessungen hingegen können jetzt durch die automatische Parameterbewertung noch leichter nach ISO-Normen analysiert werden.

Das neue konfokale 3D-Laserscanning-Mikroskop zeichnet sich durch eine Vielzahl an neuen Funktionen aus. Hinzu kommen die hohe Benutzerfreundlichkeit, die Schnelligkeit, die Automatisierung, wie auch das einzigartige Design.

Foto: Keyence

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